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當前位置:首頁產品展示LEEMAN分析儀器AreX D臺式殘余奧氏體分析儀,符合ASTM E975標準

臺式殘余奧氏體分析儀,符合ASTM E975標準

產品簡介:AreX D 臺式殘余奧氏體分析儀,符合ASTM E975標準

產品型號:AreX D

更新時間:2024-11-01

廠商性質:代理商

訪 問 量 :107

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AreX D 臺式殘余奧氏體分析儀,符合ASTM E975標準

AreX D 臺式殘余奧氏體分析儀,符合ASTM E975標準




意大利 GNR 公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產商,擁有深厚的 X 射線產品(XRD、TXRF)技術底蘊,其產品線誕生于 1966 年,經過多年的開發(fā)和研究,該類 X 射線儀器已經擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。

AreX D 是一款利用 X 射線衍射法分析殘余奧氏體含量的儀器,符合ASTM E110 殘余奧氏體國際分析檢測標準, 具有良好的檢出限、精度高、準確度好、專業(yè)性強等優(yōu)點,并且結構緊湊、操作簡單、安全高效。

何為殘余奧氏體

鋼結構部件的相變非常重要,它決定了產品的機械和物理性能。硬化鋼鐵的過程是首先加熱到奧氏體相,然后淬火冷卻到室溫轉變?yōu)橛操|的馬氏體相。奧氏體在高溫鋼中呈現面心立方結構(FCC),冷卻時,鋼體大部分轉化為體心立方結構(BCC)的鐵素體,或者轉變?yōu)轶w心正方結構(BCT)的馬氏體。根據冷卻鋼的速率,會有一部分鋼仍為奧氏體(通常為 0-40%), 因此稱為“殘余奧氏體"。

奧氏體的結構比鐵素體還有馬氏體的結構都要大,如果在轉變過程中有殘余奧氏體存在,隨著時間的延長,產品中的殘余奧氏體會轉變?yōu)槠渌囿w, 這些變化會導致產品的形狀發(fā)生改變。此外,其他的物理性能如硬度和強度, 也會因不同相體的轉變而變化,最終影響到產品的使用壽命。

X 射線衍射法測量殘余奧氏體

在許多工業(yè)生產加工過程中,對殘余奧氏體含量的控制非常嚴格,精確測量其含量,對于鋼鐵熱處理過程中產品特性和質量的控制有重大意義。因為化學蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和準確度較低的情況,所以無法做到工業(yè)生產中對殘余奧氏體的精確測量,而 X 射線衍射法可以測量低至 0.5% 的殘余奧氏體含量,故 ASTM 頒布 E975 標準方法:X 射線法測量近無規(guī)結晶取向鋼中殘余奧氏體的含量,AreX D 正是根據此標準設計開發(fā)。

由于奧氏體相結構與其他相的結構不同,在不同的測試點奧氏體會產生于鐵素體和馬氏體不同的衍射峰值,而鋼鐵中相的總數和與其衍射峰值的強度成正比。簡單來說,殘余奧氏體的總含量與奧氏體峰值強度和其他相峰值強度比有關。利

X 射線衍射儀采集四個衍射峰值就能確定殘余奧氏體的濃度,其中兩個是鐵素體和馬氏體,另外兩個是奧氏體, 通過四個峰值強度的對比即可獲得樣品中殘余奧氏體的百分比含量。AreX D 可以測量奧氏體 (220) (311)、鐵素體 (200) (211) 的衍射峰值強度,并分別提供四個奧氏體 / 鐵素體的峰值強度比。通過多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響,并能對檢測到的碳化物干擾加以計算。

儀器特點

★ 結構緊湊,節(jié)省實驗室空間,風冷式 X 射線管

★ 采用穩(wěn)定的微聚焦 50 瓦 Mo 靶射線管,Zr 濾光片

★ 配備高像素 USB 攝像頭,樣品定位方便、準確

★ 具有用于 X 射線安全保護的連鎖裝置

★ 可測奧氏體 220/311、鐵素體 200/211 的衍射峰值強度

★ 多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響

★ 軟件界面設計簡潔友好,操作簡便

★ 快速測量,測量時間小于 3 分鐘

要了解更多相關產品,請聯系愛恩跡科技(廣州)有限公司,我們期待您的咨詢。




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